微区X射线应力分析及应用-上海交通大学残余应力分析与喷丸强化实验室

拥有多套X射线应力分析仪，包括高精度六轴应力仪、便携式应力仪和手持式应力仪，既可在实验室进行残余应力和残余奥氏体分析，还可以对大型构件现场测量。选择侧倾或同倾衍射几何方式，配备Cr、Mn、Co、Cu、V和Ti靶，准直管尺寸4、2、1、0.5、0.2、0.1和0.03mm，左右双位敏探测器，实现快速高精度检测。采用电化学方法自试样表面逐层腐蚀剥离，能够检测残余应力沿材料层深的分布。微区X射线应力分析装置最小照射光斑30μm和定位精度10μm，检测尺寸范围在毫米以下甚至几十微米，例如分析微小零部件或器件残余应力，研究局部应力集中和裂纹尖端应力分布状态，以及测量喷丸弹坑残余应力及其不均匀性等。